APPLICATIONS OF LOW-TEMPERATURE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：62

作者：

HUEBENER, RP

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1088/0034-4885/47/2/002

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：175 / 220

页数：46

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共 78 条

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