APPLICATIONS OF LOW-TEMPERATURE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引:62
作者
HUEBENER, RP
机构
关键词
D O I
10.1088/0034-4885/47/2/002
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:175 / 220
页数:46
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