A NEW ION-SOURCE FOR THERMAL EMISSION MASS-SPECTROMETRY

被引：3

作者：

TODD, PJ

MCKOWN, HS

SMITH, DH

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES | 1982年 / 42卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0020-7381(82)80063-6

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学]; O56 [分子物理学、原子物理学];

学科分类号：

070203 ; 070304 ; 081704 ; 1406 ;

摘要：

引用

页码：183 / 190

页数：8

共 13 条

[1] RELIABLE SAMPLE CHANGER FOR MASS SPECTROMETER [J].

CHRISTIE, WH ;

CAMERON, AE .

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1966, 37 (03) :336-&

[2] ION OPTICS FOR THE V-TYPE SURFACE IONIZATION FILAMENT USED IN MASS SPECTROMETRY [J].

DIETZ, LA .

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1959, 30 (04) :235-241

[3]

GRIVET P, 1972, ELECTRON OPTICS

[4]

MCGILVERY DC, 1978, THESIS LATROBE U

[5]

NIER AOC, 1942, SAM A339 REP

[6]

NIER AOC, 1947, REV SCI INSTRUM, V18, P336

[7]

NIER AOC, 1943, SAM A573 REP

[8] THE RESIN BEAD AS A THERMAL ION-SOURCE - A SIMS STUDY [J].

SMITH, DH ;

CHRISTIE, WH ;

EBY, RE .

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, 1980, 36 (03) :301-316

[9] A SIMPLE METHOD TO ENHANCE THERMAL EMISSION OF METAL-IONS [J].

SMITH, DH ;

CARTER, JA .

INTERNATIONAL JOURNAL OF MASS SPECTROMETRY AND ION PROCESSES, 1981, 40 (02) :211-215

[10]

SMITH DH, 1978, USDOE ORNLTM6485 REP

← 1 2 →