AN ANALYSIS OF THE PROCESS OF RECRYSTALLIZATION OF SILICON THIN-FILMS WITH EITHER A SCANNING LASER OR STRIP HEATER

被引:29
作者
CLINE, HE
机构
关键词
D O I
10.1063/1.332291
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:2683 / 2691
页数:9
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