CHARGING OF INSULATORS BY ION-BOMBARDMENT AND ITS MINIMIZATION FOR SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY (SIMS) MEASUREMENTS

被引：134

作者：

WERNER, HW ^{[1
]}

MORGAN, AE ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.322845

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：1232 / 1242

页数：11

共 22 条

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