CHARGING OF INSULATORS BY ION-BOMBARDMENT AND ITS MINIMIZATION FOR SECONDARY ION MASS-SPECTROMETRY (SIMS) MEASUREMENTS

被引：134

作者：

WERNER, HW ^{[1
]}

MORGAN, AE ^{[1
]}

机构：

[1] PHILIPS RES LABS,EINDHOVEN,NETHERLANDS

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1976年 / 47卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1063/1.322845

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：1232 / 1242

页数：11

相关论文

共 22 条

[21]

Ueda Y., 1972, Mass Spectroscopy, V20, P185

[22]

Werner H. W., 1973, Radiation Effects, V18, P269, DOI 10.1080/00337577308232134