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PIXE ANALYSIS OF COMPOUND MATERIALS
被引:2
作者
:
KALISH, R
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT PHYS,HAIFA,ISRAEL
TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT PHYS,HAIFA,ISRAEL
KALISH, R
[
1
]
BAHIR, G
论文数:
0
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机构:
TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT PHYS,HAIFA,ISRAEL
TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT PHYS,HAIFA,ISRAEL
BAHIR, G
[
1
]
机构
:
[1]
TECHNION ISRAEL INST TECHNOL,DEPT PHYS,HAIFA,ISRAEL
来源
:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH
|
1983年
/ 218卷
/ 1-3期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0167-5087(83)91014-1
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页码:415 / 419
页数:5
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MOORE TM, 1983 US WORKSH PHYS, P75
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