EVIDENCE FOR LOCALIZATION EFFECTS IN COMPENSATED SEMICONDUCTORS

被引:97
作者
THOMAS, GA [1 ]
OOTUKA, Y [1 ]
KATSUMOTO, S [1 ]
KOBAYASHI, S [1 ]
SASAKI, W [1 ]
机构
[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1982年 / 25卷 / 06期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.25.4288
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:4288 / 4290
页数:3
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共 31 条
  • [31] YAMANOUCHI C, 1972, RES ELECTROTECH LAB, V737, P1