学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
EVIDENCE FOR LOCALIZATION EFFECTS IN COMPENSATED SEMICONDUCTORS
被引:97
作者
:
THOMAS, GA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
THOMAS, GA
[
1
]
OOTUKA, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
OOTUKA, Y
[
1
]
KATSUMOTO, S
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
KATSUMOTO, S
[
1
]
KOBAYASHI, S
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
KOBAYASHI, S
[
1
]
SASAKI, W
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
SASAKI, W
[
1
]
机构
:
[1]
BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
来源
:
PHYSICAL REVIEW B
|
1982年
/ 25卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1103/PhysRevB.25.4288
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:4288 / 4290
页数:3
相关论文
共 31 条
[31]
YAMANOUCHI C, 1972, RES ELECTROTECH LAB, V737, P1
←
1
2
3
4
→
共 31 条
[31]
YAMANOUCHI C, 1972, RES ELECTROTECH LAB, V737, P1
←
1
2
3
4
→