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1969, RADIOGRAPHY MODERN I, P74
SENSITIVITY AND DETECTIVE QUANTUM EFFICIENCY OF ELECTRON-MICROSCOPE PLATES AT HIGH VOLTAGES
被引：5
作者：
AST, DG
机构：
[1] CORNELL UNIV,DEPT MAT SCI & ENGN,ITHACA,NY 14850
[2] CORNELL UNIV,MAT SCI CTR,ITHACA,NY 14850
关键词：
D O I：
10.1063/1.1663103
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：4638 / 4643
页数：6
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