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A ROTATION STAGE FOR PRECISE ALIGNMENT AT THE 10-3 SEC OF ARC LEVEL
被引:7
作者
:
BONSE, U
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BONSE, U
TEWORTE, R
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TEWORTE, R
机构
:
来源
:
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1982年
/ 15卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1088/0022-3735/15/2/011
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
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页码:187 / 190
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相关论文
共 2 条
[1]
THE MEASUREMENT OF THE X-RAY-SCATTERING FACTORS OF SILICON FROM THE FINE-STRUCTURE OF LAUE-CASE ROCKING CURVES
BONSE, U
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BONSE, U
TEWORTE, R
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TEWORTE, R
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1980,
13
(OCT)
: 410
-
416
[2]
BONSE U, 1982, UNPUB NUCL INSTRUM M
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共 2 条
[1]
THE MEASUREMENT OF THE X-RAY-SCATTERING FACTORS OF SILICON FROM THE FINE-STRUCTURE OF LAUE-CASE ROCKING CURVES
BONSE, U
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0
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0
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BONSE, U
TEWORTE, R
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0
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TEWORTE, R
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1980,
13
(OCT)
: 410
-
416
[2]
BONSE U, 1982, UNPUB NUCL INSTRUM M
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