GEOMETRY DEPENDENCE OF THIN-FILM TRANSVERSE THERMOELECTRIC VOLTAGES

被引：5

作者：

VONGUTFELD, RJ ^{[1
]}

机构：

[1] IBM CORP, THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.323180

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：3436 / 3437

页数：2

共 5 条

[1]

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