PRECISION AND DETECTION LIMITS OF RARE-EARTH ELEMENTS IN SYNTHETIC GLASS STANDARDS BY ELECTRON-PROBE ANALYSIS

被引：3

作者：

HEIDEL, RH ^{[1
]}

机构：

[1] US GEOL SURVEY,DENVER,CO 83225

来源：

关键词：

D O I：

10.1021/ac60349a034

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：2038 / 2039

页数：2

共 4 条

[1]

BIRK LS, 1969, XRAY SPECTROCHEMICAL, P81

DRAKE, MJ ;

WEILL, DF .

HEIDEL, RH .

HEIDEL, RH .