A SUMMARY OF JPL SINGLE EVENT UPSET TEST DATA FROM MAY 1982, THROUGH JANUARY 1984

被引：11

作者：

NICHOLS, DK

PRICE, WE

MALONE, CJ

SMITH, LS

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1984年 / 31卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1984.4333480

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1186 / 1189

页数：4

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共 1 条

[1] SINGLE EVENT UPSET (SEU) OF SEMICONDUCTOR-DEVICES - A SUMMARY OF JPL TEST DATA [J].

NICHOLS, DK ;

PRICE, WE ;

MALONE, CJ .

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE, 1983, 30 (06) :4520-4525