INFLUENCE OF CU AS AN IMPURITY IN AL/TI AND AL/W THIN-FILM REACTIONS

被引:65
作者
KRAFCSIK, I [1 ]
GYULAI, J [1 ]
PALMSTROM, CJ [1 ]
MAYER, JW [1 ]
机构
[1] CORNELL UNIV,DEPT MAT SCI & ENGN,ITHACA,NY 14853
关键词
D O I
10.1063/1.94212
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
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页码:1015 / 1017
页数:3
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