MEASUREMENT OF SURFACE-DEFECTS BY LOW-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION

被引:109
作者
HENZLER, M
机构
来源
APPLIED PHYSICS A-MATERIALS SCIENCE & PROCESSING | 1984年 / 34卷 / 04期
关键词
D O I
10.1007/BF00616574
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:205 / 214
页数:10
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