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ATOMIC SITE DETERMINATION USING THE CHANNELING EFFECT IN ELECTRON-INDUCED X-RAY-EMISSION
被引:60
作者:
TAFTO, J
SPENCE, JCH
机构:
关键词:
D O I:
10.1016/0304-3991(82)90207-8
中图分类号:
TH742 [显微镜];
学科分类号:
摘要:
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页数:5
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