FET SCALING IN DOMINO CMOS GATES

被引：31

作者：

SHOJI, M

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/JSSC.1985.1052438

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1067 / 1071

页数：5

共 11 条

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