STUDY OF THE ANODIZATION OF NIOBIUM AND TANTALUM SUPERIMPOSED LAYERS BY O-18 TRACING TECHNIQUES AND NUCLEAR MICROANALYSIS .1. O-18 AND CATION DEPTH PROFILES

被引:15
作者
PERRIERE, J
SIEJKA, J
机构
关键词
D O I
10.1149/1.2119936
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
摘要
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页码:1260 / 1267
页数:8
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