RESOLUTION OF FIELD-ION MICROSCOPY VERSUS SCANNING TUNNELLING MICROSCOPY FOR OBTAINING SURFACE-CHARGE DENSITY CORRUGATIONS

被引:1
作者
KINGHAM, DR [1 ]
GARCIA, N [1 ]
机构
[1] UNIV CAMBRIDGE,CAVENDISH LAB,CAMBRIDGE CB3 0HE,ENGLAND
来源
JOURNAL DE PHYSIQUE | 1984年 / 45卷 / NC9期
关键词
D O I
10.1051/jphyscol:1984921
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