A SURVEY OF IRON CONTAMINATION IN SILICON SUBSTRATES AND ITS IMPACT ON CIRCUIT YIELD

被引：48

作者：

WARD, PJ

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1149/1.2123612

中图分类号：

O646 [电化学、电解、磁化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

页码：2573 / 2576

页数：4

共 6 条

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