QUANTITATIVE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY OF SURFACES

被引：6

作者：

REIMER, L

机构：

来源：

JOURNAL DE PHYSIQUE | 1984年 / 45卷 / NC-2期

关键词：

D O I：

10.1051/jphyscol:1984265

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：291 / 296

页数：6

共 23 条

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