PERFORMANCE INDEX TO QUANTIFY RELIABILITY USING FUZZY SUBSET THEORY

被引：5

作者：

MISRA, KB ^{[1
]}

SHARMA, A ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV ROORKEE,DEPT ELECT ENGN,ROORKEE 247672,UTTAR PRADESH,INDIA

来源：

MICROELECTRONICS AND RELIABILITY | 1981年 / 21卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1016/0026-2714(81)90245-6

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页数：7