X-RAY MIRROR REFLECTIVITIES FROM 3.8 TO 50 KEV (3.3 TO 0.25 A) .2. PT, SI AND OTHER MATERIALS

被引:35
作者
BILDERBACK, DH
HUBBARD, S
机构
来源
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1982年 / 195卷 / 1-2期
关键词
D O I
10.1016/0029-554X(82)90763-7
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
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