VOLTAGE DROP IN THE EXPERIMENTS OF SCANNING TUNNELING MICROSCOPY FOR SI

被引：58

作者：

FLORES, F

GARCIA, N

机构：

来源：

PHYSICAL REVIEW B | 1984年 / 30卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevB.30.2289

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页码：2289 / 2291

页数：3

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共 5 条

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