ELEMENTAL DEPTH PROFILE ANALYSIS OF HARD COATINGS OF TUNGSTEN CARBIDE BY AUGER-ELECTRON (AES-) MICROPROBE SPUTTERING

被引：3

作者：

GARTEN, RPH

机构：

来源：

FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE | 1986年 / 324卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1007/BF00473349

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：111 / 119

页数：9

共 78 条

[1]

AHLBORN H, 1971, INDUSTRIEANZEIGER, V21, pH1

[2]

ANDERSEN HH, 1981, TOP APPL PHYS, V47, P145, DOI [10.1007/3540105212_9, DOI 10.1007/3540105212_9]

[3]

ANDERSON DG, 1985, ANAL CHEM, V57, pR15

ARCHER, NJ ;

YEE, KK .

[5] SOLVING CORROSION PROBLEMS WITH SURFACE ANALYSIS. [J].

Baer, D.R. .

Applications of surface science, 1984, 20 (04) :382-396

[6]

BETZ G, 1983, TOP APPL PHYS, V52, P11

BHUSHAN, B ;

DAVIS, RE ;

KOLAR, HR .

[8]

BORDERS JA, 1978, NUCL INSTRUM METHODS, V149, P279, DOI 10.1016/0029-554X(78)90873-X

[9]

BRIGGS D, 1983, PRACTICAL SURFACE AN, P359

BUBERT, H .

FRESENIUS ZEITSCHRIFT FUR ANALYTISCHE CHEMIE, 1983, 314 (03) :237-241