PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS

被引:39
作者
CEREZO, A
GROVENOR, CRM
SMITH, GDW
机构
来源
JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1986年 / 141卷
关键词
D O I
10.1111/j.1365-2818.1986.tb02712.x
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
引用
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页码:155 / 170
页数:16
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