DIFFRACTION LIMITATIONS FOR PLASMA ELECTRON-DENSITY MEASUREMENTS WITH SCHLIEREN METHODS

被引：5

作者：

DODEL, G ^{[1
]}

KUNZ, W ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV STUTTGART,INST PLASMA FORSCH,PFAFFENWALDRING 31,D-7 STUTTGART,FED REP GER

来源：

APPLIED OPTICS | 1975年 / 14卷 / 10期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.14.002537

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2537 / 2541

页数：5

共 10 条

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