INTERFERENCE THICKNESS OSCILLATIONS OF AN X-RAY WAVE ON PERIODICALLY PROFILED SILICON

被引：14

作者：

ARISTOV, VV ^{[1
]}

WINTER, U ^{[1
]}

NIKULIN, AY ^{[1
]}

REDKIN, SV ^{[1
]}

SNIGIREV, AA ^{[1
]}

ZAUMSEIL, P ^{[1
]}

YUNKIN, VA ^{[1
]}

机构：

[1] ACAD SCI GDR,INST SEMICOND PHYS,DDR-1200 FRANKFURT,GER DEM REP

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1988年 / 108卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2211080222

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：651 / 655

页数：5