PHASE CHARACTERIZATION IN SI3N4-SIC PARTICULATE COMPOSITES PERFORMED BY EELS IN A 1MV MICROSCOPE

被引：3

作者：

LANCIN, M ^{[1
]}

RAMOULBADACHE, K ^{[1
]}

KIHN, Y ^{[1
]}

SEVELY, J ^{[1
]}

机构：

[1] CNRS,OPT ELECTR LAB,F-31055 TOULOUSE,FRANCE

来源：

PHILOSOPHICAL MAGAZINE A-PHYSICS OF CONDENSED MATTER STRUCTURE DEFECTS AND MECHANICAL PROPERTIES | 1988年 / 58卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1080/01418618808209944

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：667 / 676

页数：10