ATOMIC AND ELECTRONIC CONTRIBUTIONS TO SI(111)-(7X7) SCANNING-TUNNELING-MICROSCOPY IMAGES

被引:140
作者
TROMP, RM
HAMERS, RJ
DEMUTH, JE
机构
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1986年 / 34卷 / 02期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.34.1388
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:1388 / 1391
页数:4
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