DECONVOLUTION FOR ELS QUANTITATION

被引：13

作者：

JOY, DC

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(82)90214-5

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：289 / 294

页数：6

共 9 条

EGERTON, RF .

[2] K-SHELL IONIZATION CROSS-SECTIONS FOR USE IN MICROANALYSIS [J].

EGERTON, RF .

[3]

EGERTON RF, 1981, 39TH P ANN EMSA M AT, P198

[4]

EGERTON RF, 1976, DEV ELECTRON MICROSC, P129

[5] THE QUANTITATION OF ELECTRON-ENERGY LOSS SPECTRA [J].

JOY, DC ;

MAHER, DM .

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD, 1981, 124 (OCT) :37-48

[6]

JOY DC, 1979, SCANNING ELECTRON MI, V2, P817

[7]

LEAPMAN R, 1982, MICROANALYSIS 1981

[8]

RAY AB, 1979, 37TH P ANN EMSA M SA, P522

[9]

SPENCE JCH, 1973, THESIS U MELBOURNE