CONTAMINATION FORMED AROUND A VERY NARROW ELECTRON-BEAM

被引:31
作者
KNOX, WA [1 ]
机构
[1] ARIZONA STATE UNIV,DEPT PHYS,TEMPE,AZ 85281
关键词
D O I
10.1016/0304-3991(76)90031-0
中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
摘要
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页码:175 / 180
页数:6
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