共 11 条
- [11] VONMENTS M, 1947, APPL SCI RES B-ELEC, V1, P3
IMAGING OF SINGLE ATOMS WITH ELECTRON MICROSCOPE BY PHASE CONTRAST
被引：70
作者：
EISENHANDLER, CB
SIEGEL, BM
机构：
关键词：
D O I：
10.1063/1.1708575
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
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