A REVIEW OF CRYSTALLOGRAPHIC CALCULATIONAL METHODS USED IN THE RAD GROUP OF COMPUTER-PROGRAMS FOR ANALYTICAL ELECTRON-MICROSCOPY

被引：7

作者：

CARR, MJ ^{[1
]}

CHAMBERS, WF ^{[1
]}

机构：

[1] ROCKWELL INT,ROCKY FLATS,CO

来源：

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD | 1984年 / 134卷 / APR期

关键词：

D O I：

10.1111/j.1365-2818.1984.tb00504.x

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：18

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共 12 条

[11]

TERPSTRA P, 1961, CRYSTALLOMETRY, P177

[12]

INT TABLES XRAY CRYS, V1