INVESTIGATION OF THE X-RAY-SCATTERING INTENSITY FOR THE LAUE-CASE DIFFRACTION UNDER TOTAL-EXTERNAL-REFLECTION CONDITIONS

被引：25

作者：

GOLOVIN, AL

IMAMOV, RM

机构：

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1983年 / 77卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210770170

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

收藏

页码：K91 / K94

页数：4

相关论文

共 3 条

[1] AFANSEV AM, 1983, UNPUB ACTA CRYST A, V39
[2] KOVEV EK, 1981, FIZ TVERD TELA+, V23, P587
[3] X-RAY TOTAL-EXTERNAL-REFLECTION-BRAGG DIFFRACTION - STRUCTURAL STUDY OF THE GAAS-AL INTERFACE
MARRA, WC
EISENBERGER, P
CHO, AY
[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1979, 50 (11) : 6927 - 6933