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A NEW LINEAR POSITION-SENSITIVE SCINTILLATION DETECTOR FOR NEUTRON POWDER DIFFRACTOMETRY
被引:33
作者
:
SCHAFER, W
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机构:
FORSCHUNGSZENTRUM JULICH, ARBEITSGRP NEUTRONENBEUGUNG, D-5170 JULICH 1, FED REP GER
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SCHAFER, W
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JANSEN, E
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JANSEN, E
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ELF, F
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WILL, G
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机构
:
[1]
FORSCHUNGSZENTRUM JULICH, ARBEITSGRP NEUTRONENBEUGUNG, D-5170 JULICH 1, FED REP GER
来源
:
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY
|
1984年
/ 17卷
/ JUN期
关键词
:
D O I
:
10.1107/S0021889884011237
中图分类号
:
O6 [化学];
学科分类号
:
0703 ;
摘要
:
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CRYSTAL-STRUCTURE REFINEMENT BY PROFILE FITTING AND LEAST-SQUARES ANALYSIS OF POWDER DIFFRACTOMETER DATA
WILL, G
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IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
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WILL, G
PARRISH, W
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HUANG, TC
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IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
HUANG, TC
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1983,
16
(DEC)
: 611
-
622
[22]
POWLS - POWDER LEAST-SQUARES PROGRAM
WILL, G
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WILL, G
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1979,
12
(OCT)
: 483
-
485
[23]
WILL G, 1982, AIP C P, V89, P205
[24]
WROE H, 1978, SNSUTLN13 RUTH LAB N
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CRYSTAL-STRUCTURE REFINEMENT BY PROFILE FITTING AND LEAST-SQUARES ANALYSIS OF POWDER DIFFRACTOMETER DATA
WILL, G
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IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
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PARRISH, W
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PARRISH, W
HUANG, TC
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机构:
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
IBM CORP,RES LAB,SAN JOSE,CA 95193
HUANG, TC
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1983,
16
(DEC)
: 611
-
622
[22]
POWLS - POWDER LEAST-SQUARES PROGRAM
WILL, G
论文数:
0
引用数:
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0
WILL, G
[J].
JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY,
1979,
12
(OCT)
: 483
-
485
[23]
WILL G, 1982, AIP C P, V89, P205
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WROE H, 1978, SNSUTLN13 RUTH LAB N
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