RADIATION-DAMAGE TO INTEGRATED INJECTION LOGIC CELLS

被引：3

作者：

PEASE, RL

GALLOWAY, KF

STEHLIN, RA

机构：

[1] USN,WEAPONS SUPPORT CTR,CRANE,IN 47522

[2] NBS,WASHINGTON,DC 20234

[3] TEXAS INSTR,DALLAS,TX 75222

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE | 1975年 / 22卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1975.4328175

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

收藏

页码：2600 / 2604

页数：5

相关论文

共 5 条

[1]

ALTMAN L, 1974, ELECTRONICS, V47, P91

[2]

BLICE RD, 1975, AFWLTR74327 AIR FORC, P81

[3] INTEGRATED INJECTION LOGIC - PRESENT AND FUTURE [J].

DETROYE, NC .

IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS, 1974, SC 9 (05) :206-211

[4]

HART CM, 1974, ELECTRONICS, V47, P111

[5] GAMMA-RADIATION EFFECTS ON INTEGRATED INJECTION LOGIC CELLS [J].

PEASE, RL ;

GALLOWAY, KF ;

STEHLIN, RA .

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES, 1975, ED22 (06) :348-351