X-RAY-DIFFRACTION CHARACTERIZATION OF MULTILAYER SEMICONDUCTOR STRUCTURES

被引：23

作者：

VREELAND, T

PAINE, BM

机构：

来源：

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1986年 / 4卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1116/1.573645

中图分类号：

TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

页码：3153 / 3159

页数：7

共 22 条

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