学术探索
学术期刊
新闻热点
数据分析
智能评审
立即登录
EXCHANGE-ANISOTROPY FOR PROVIDING DUAL BIAS IN MAGNETORESISTIVE HEADS
被引:3
作者
:
CAIN, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CAIN, WC
KRYDER, MH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KRYDER, MH
机构
:
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS
|
1989年
/ 25卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
10.1109/20.24523
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:2787 / 2788
页数:2
相关论文
共 4 条
[1]
BAJOREK C, 1974, AIP C P, V24, P548
[2]
EXCHANGE COUPLED NIFE-TBCO THIN-FILMS FOR USE IN SELF-BIASED MAGNETORESISTIVE HEADS
[J].
CAIN, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CAIN, WC
;
LEE, JW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LEE, JW
;
KOEPPE, PV
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KOEPPE, PV
;
KRYDER, MH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KRYDER, MH
.
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS,
1988,
24
(06)
:2609
-2611
[3]
EFFECTS OF TEMPERATURE ON EXCHANGE COUPLED ALLOYS OF NI80FE20-FEMN, NI80FE20-ALPHA-FE2O3, AND NI80FE20-TBCO
[J].
CAIN, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CAIN, WC
;
MEIKLEJOHN, WH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MEIKLEJOHN, WH
;
KRYDER, MH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KRYDER, MH
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1987,
61
(08)
:4170
-4172
[4]
FABRICATION AND WAFER TESTING OF BARBER-POLE AND EXCHANGE-BIASED NARROW-TRACK MR SENSORS
[J].
TSANG, C
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
TSANG, C
;
FONTANA, RE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FONTANA, RE
.
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS,
1982,
18
(06)
:1149
-1151
←
1
→
共 4 条
[1]
BAJOREK C, 1974, AIP C P, V24, P548
[2]
EXCHANGE COUPLED NIFE-TBCO THIN-FILMS FOR USE IN SELF-BIASED MAGNETORESISTIVE HEADS
[J].
CAIN, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CAIN, WC
;
LEE, JW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LEE, JW
;
KOEPPE, PV
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KOEPPE, PV
;
KRYDER, MH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KRYDER, MH
.
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS,
1988,
24
(06)
:2609
-2611
[3]
EFFECTS OF TEMPERATURE ON EXCHANGE COUPLED ALLOYS OF NI80FE20-FEMN, NI80FE20-ALPHA-FE2O3, AND NI80FE20-TBCO
[J].
CAIN, WC
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
CAIN, WC
;
MEIKLEJOHN, WH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MEIKLEJOHN, WH
;
KRYDER, MH
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KRYDER, MH
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1987,
61
(08)
:4170
-4172
[4]
FABRICATION AND WAFER TESTING OF BARBER-POLE AND EXCHANGE-BIASED NARROW-TRACK MR SENSORS
[J].
TSANG, C
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
TSANG, C
;
FONTANA, RE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
FONTANA, RE
.
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS,
1982,
18
(06)
:1149
-1151
←
1
→