A COMPARISON OF SEVERAL COMPONENT-TESTING PLANS FOR A SERIES SYSTEM

被引：12

作者：

YAN, JH ^{[1
]}

MAZUMDAR, M ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV PITTSBURGH,DEPT IND ENGN,PITTSBURGH,PA 15261

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TR.1986.4335498

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：437 / 443

页数：7

共 6 条

[1]

BUFFIN RL, 1985, IEEE T RELIABILITY, V34, P241

[2] OPTIMAL TEST DESIGN FOR RELIABILITY DEMONSTRATION [J].

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[3] OPTIMAL REPAIR ALLOCATION IN A SERIES SYSTEM [J].

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[5]

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