STATUS OF THE SURFACE AND BULK PARASITIC EFFECTS LIMITING THE PERFORMANCES OF GAAS IC-S

被引:46
作者
ROCCHI, M
机构
来源
PHYSICA B & C | 1985年 / 129卷 / 1-3期
关键词
D O I
10.1016/0378-4363(85)90559-5
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
收藏
页码:119 / 138
页数:20
相关论文
共 41 条
[1]  
ASAI S, 1973, J JAPAN SOC APPLIE S, V42
[2]  
BIRRITTELLA MS, 1982, IEEE T ELECTRON DEVI, V29
[3]  
BOCCONGIBOD D, COMMUNICATION
[4]  
DUCOURANT T, 1984, GAAS RELATED COMPOUN
[5]  
GUEGUEN M, 1984, JOURNEES NATIONALES
[6]  
INO M, 1984, IEEE T ELECTRON DEVI, V31
[7]  
ISHII Y, 1984, IEEE T ELECTRON DEVI, V31
[8]  
ITOH H, 1982, IEEE T ELECTRON DEVI, V28
[9]   DISLOCATION-FREE GAAS AND INP CRYSTALS BY ISOELECTRONIC DOPING [J].
JACOB, G ;
DUSEAUX, M ;
FARGES, JP ;
VANDENBOOM, MMB ;
ROKSNOER, PJ .
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 1983, 61 (02) :417-424
[10]  
KITAGAWA T, 1984, SEP GAAS REL COMP S