THEORETICAL AND EXPERIMENTAL-ANALYSIS OF THE SWITCHING MECHANISM IN HETEROSTRUCTURE HOT-ELECTRON DIODES

被引:25
作者
HIGMAN, TK [1 ]
HIGMAN, JM [1 ]
EMANUEL, MA [1 ]
HESS, K [1 ]
COLEMAN, JJ [1 ]
机构
[1] UNIV ILLINOIS,CTR CMPD SEMICOND MICROELECTR,URBANA,IL 61801
关键词
D O I
10.1063/1.339630
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页码:1495 / 1499
页数:5
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