A TAMPERED FAILURE RATE MODEL FOR STEP-STRESS ACCELERATED LIFE TEST

被引：169

作者：

BHATTACHARYYA, GK ^{[1
]}

SOEJOETI, Z ^{[1
]}

机构：

[1] GADJAH MADA UNIV,DEPT MATH,JOGJAKARTA,INDONESIA

来源：

COMMUNICATIONS IN STATISTICS-THEORY AND METHODS | 1989年 / 18卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1080/03610928908829990

中图分类号：

O21 [概率论与数理统计]; C8 [统计学];

学科分类号：

020208 ; 070103 ; 0714 ;

摘要：

引用

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页码：1627 / 1643

页数：17

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共 11 条

[11] INFERENCE FOR STEP-STRESS ACCELERATED LIFE TESTS [J].

SHAKED, M ;

SINGPURWALLA, ND .

JOURNAL OF STATISTICAL PLANNING AND INFERENCE, 1983, 7 (04) :295-306