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XENON MIGRATION AND TRAPPING IN DOPED THO2
被引:37
作者
:
MATZKE, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MATZKE, H
机构
:
来源
:
JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS
|
1967年
/ 21卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0022-3115(67)90149-3
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:190 / &
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共 22 条
[21]
DEFECT STRUCTURE AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF THO2-Y2O3 SOLID SOLUTIONS
[J].
SUBBARAO, EC
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SUBBARAO, EC
;
SUTTER, PH
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HRIZO, J
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HRIZO, J
.
JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY,
1965,
48
(09)
:443
-&
[22]
WHITTON JL, IN PRESS
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共 22 条
[21]
DEFECT STRUCTURE AND ELECTRICAL CONDUCTIVITY OF THO2-Y2O3 SOLID SOLUTIONS
[J].
SUBBARAO, EC
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SUBBARAO, EC
;
SUTTER, PH
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SUTTER, PH
;
HRIZO, J
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HRIZO, J
.
JOURNAL OF THE AMERICAN CERAMIC SOCIETY,
1965,
48
(09)
:443
-&
[22]
WHITTON JL, IN PRESS
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