YIELD MODEL FOR PRODUCTIVITY OPTIMIZATION OF VLSI MEMORY CHIPS WITH REDUNDANCY AND PARTIALLY GOOD PRODUCT

被引:142
作者
STAPPER, CH
MCLAREN, AN
DRECKMANN, M
机构
关键词
D O I
10.1147/rd.243.0398
中图分类号
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号
0812 ;
摘要
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页码:398 / 409
页数:12
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