CHARGE CARRIER LIFETIME MEASUREMENTS ON HIGH-PURITY SILICON

被引：9

作者：

VANWIJNEN, PJ

TENKATE, WRT

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION A-ACCELERATORS SPECTROMETERS DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT | 1987年 / 253卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0168-9002(87)90516-X

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：351 / 359

页数：9

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共 12 条

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