DEVELOPMENT OF A DIAGNOSTIC X-RAY SPECTROMETER WITH A LITHIUM-DRIFTED SILICON DETECTOR FOR INTERCOMPARISON AND IMAGE ANALYSIS

被引:10
作者
LERCH, IA
HAUS, AG
机构
关键词
D O I
10.1148/101.2.401
中图分类号
R8 [特种医学]; R445 [影像诊断学];
学科分类号
1002 ; 100207 ; 1009 ;
摘要
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