ANNEALING OF PHOSPHORUS IMPLANTED SILICON-WAFERS BY MULTISCANNING ELECTRON-BEAM - SOLAR-CELLS APPLICATION

被引:9
作者
BENTINI, GG
GALLONI, R
GABILLI, E
NIPOTI, R
OLZI, E
SERVIDORI, M
TURISINI, G
ZIGNANI, F
机构
[1] C.N.R. Istituto LAMEL, via Castagnoli 1, 40126 Bologna, Italy
关键词
All Open Access; Bronze;
D O I
10.1063/1.328625
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
27
引用
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页码:6735 / 6742
页数:8
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