ORIGINS OF SECONDARY-ELECTRON SIGNAL IN SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引：13

作者：

ROBINSON, VN ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV NEW S WALES,SCH TEXT TECHNOL,POB 1,KENSINGTON 2033,NEW S WALES,AUSTRALIA

来源：

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3727/7/16/304

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：2169 / 2173

页数：5

共 12 条

[1] Becker A, 1925, ANN PHYS-BERLIN, V78, P228
[2] COLBY JW, 1969, ADV ELECTRON ELECT S, V6, P176
[3] COSSLETT VE, 1965, BRIT J APPL PHYS, V16, P776
[4] DRESCHER H, 1970, Z ANGEW PHYSIK, V29, P331
[5] ECHLIN P, 1972, 1972 P S SCANN EL MI, P137
[6] HAAS GA, 1966, J APPL PHYS, V31, P64
[7] JOHARI O, 1971, P ANNUAL SCANNING EL, P529
[8] PALLUEL P, 1947, CR HEBD ACAD SCI, V224, P1492
[9] HIGH RESOLUTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPY
PEASE, RFW
NIXON, WC
[J]. JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1965, 42 (02): : 81 - &
[10] SEILER H, 1967, Z ANGEW PHYSIK, V22, P249