X-RAY-DIFFRACTION STUDY OF MICROSTRUCTURE OF HEXAGONAL CLOSE-PACKED ZINC FILMS .1. FILMS VACUUM EVAPORATED AT OBLIQUE-INCIDENCE

被引：14

作者：

SEN, S

NANDI, RK

SENGUPTA, SP

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0040-6090(78)90326-7

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

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页数：16

共 28 条

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