QUANTITATIVE TRACE-ELEMENT DETERMINATION IN THIN SAMPLES BY TOTAL REFLECTION X-RAY-FLUORESCENCE USING THE SCATTERED RADIATION METHOD

被引：21

作者：

YAP, CT

AYALA, RE

WOBRAUSCHEK, P

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1002/xrs.1300170503

中图分类号：

O433 [光谱学];

学科分类号：

0703 ; 070302 ;

摘要：

引用

页码：171 / 174

页数：4

共 6 条

ANDERMANN, G ;

KEMP, JW .

[2]

JENKINS R, 1981, QUANTITATIVE XRAY SP

[3]

NIELSON KK, 1979, ADV XRAY ANAL, V22, P303

[4]

NULLENS HA, 1984, PRO AXIL

[5]

TERTIAN R, 1982, PRINCIPLES QUANTITAT, pCH15

WOBRAUSCHEK, P ;

AIGINGER, H .